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| 品牌 | LNEYA/無錫冠亞 | 產地類別 | 國產 |
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半導體芯片調試控溫高低溫一體機
半導體芯片調試控溫高低溫一體機
半導體芯片調試控溫高低溫一體機
| 型號 | TES-4525 / TES-4525W | |||||
| 溫度范圍 | -45℃～250℃ | |||||
| 加熱功率 | 2.5kW | |||||
| 制冷量 | 250℃ | 2.5kW | ||||
| 100℃ | 2.5kW | |||||
| 20℃ | 2.5kW | |||||
| 0℃ | 1.8kW | |||||
| -20℃ | 0.85kW | |||||
| -40℃ | 0.25kW | |||||
| 導熱介質溫控精度 | ±0.3℃ | |||||
| 系統壓力顯示 | 制冷系統壓力采用指針式壓力表實現（高壓、低壓） 循環(huán)系統壓力采用壓力傳感器檢測顯示在觸摸屏上 | |||||
| 控制器 | 西門子PLC，模糊PID控制算法，具備串控制算法 | |||||
| 溫度控制 | 導熱介質出口溫度控制模式 外接溫度傳感器：（PT100或4～20mA或通信給定）控制模式（串控制） | |||||
| 可編程 | 可編制10條程序，每條程序可編制45段步驟 | |||||
| 通信協議 | 以太網接口TCP/IP協議 | |||||
| 設備內部溫度反饋 | 設備導熱介質出口溫度、介質溫度、制冷系統冷凝溫度、環(huán)境溫度、壓縮機吸氣溫度、冷卻水溫度（水冷設備有） | |||||
| 外接入溫度反饋 | PT100或4～20mA或通信給定 | |||||
| 串控制時 | 導熱油出口溫度與外接溫度傳感器的溫度差可設定可控制 | |||||
| 溫差控制功能 | 設備進液口溫度與出液口溫度的溫度差值可設定可控制（保護系統安全） | |||||
| 密閉循環(huán)系統 | 整個系統為全密閉系統，高溫時不會有油霧、低溫不吸收空氣中水份，系統在運行中不會因為高溫使壓力上升，低溫自動補充導熱介質。 | |||||
| 加熱 | 指系統大的加熱輸出功率（根據各型號） 加熱器有三重保護，獨立溫度限制器，確保加熱系統安全 功率大于10kW采用調壓器，加熱功率輸出控制采用4～20mA線性控制 | |||||
| 制冷能力 | 指在不同的溫度具備帶走熱量的能力（理想狀態(tài)下），實際工況需要考慮環(huán)境散熱，請適當放大，并且做好保溫措施。 | |||||
| 循環(huán)泵流量、壓力 max | 采用冠亞磁力驅動泵/德國品牌磁力驅動泵 | |||||
| 20L/min 2.5bar | ||||||
| 壓縮機 | 法國泰康 | |||||
| 蒸發(fā)器 | 采用DANFOSS/高力板式換熱器 | |||||
| 制冷附件 | 丹佛斯/艾默生配件（干燥過濾器、油分離器、高低壓保護器、膨脹閥） | |||||
| 操作面板 | 無錫冠亞定制7英寸彩色觸摸屏，溫度曲線顯示EXCEL 數據導出 | |||||
| 安全防護 | 具有自我診斷功能；相序斷相保護器、冷凍機過載保護；高壓壓力開關，過載繼電器、熱保護裝置等多種安全保障功能。 | |||||
| 制冷劑 | R-404A / R507C | |||||
| 接口尺寸 | G1/2 | |||||
| 外型尺寸（風）cm | 45*85*130 | |||||
| 外型尺寸（水）cm | 45*85*130 | |||||
| 風冷型 | 采用銅管鋁翅片冷凝方式，上出風型式，冷凝風機采用德國EBM軸流風機 | |||||
| 水冷型 W | 帶W型號為水冷型 | |||||
| 水冷冷凝器 | 套管式換熱器（帕麗斯/沈氏 ） | |||||
| 冷卻水量 at 25℃ | 0.6m3/h | |||||
| 電源 | 4.5kW max 220V | |||||
| 電源 | 可定制460V 60HZ、220V 60HZ 三相 | |||||
| 外殼材質 | 冷軋板噴塑 （標準顏色7035） | |||||
| 隔離防爆 | 可定制隔離防爆（EXdIIBT4) 無錫冠亞防爆產品安裝許可證號：PCEC-2017-B025 | |||||
| 正壓防爆 | 可定制正壓防爆(EXPXdmbIICT4) 正壓系統必須是水冷設備 無錫冠亞防爆產品安裝許可證號：PCEC-2017-B025 | |||||
芯片測試控溫系統發(fā)展背景
芯片測試控溫系統是伴隨著芯片行業(yè)不斷發(fā)展的，隨著半導體集成電路制造業(yè)的發(fā)展以及信息技術的不斷更新，元器件行業(yè)也快速發(fā)展起來，為此，無錫冠亞推出芯片測試控溫系統，針對芯片、半導體、元器件行業(yè)的測試工作。
隨著進入高速發(fā)展的信息化時代，其中以半導體集成電路（簡稱芯片）制造和信息技術為主要代表，尤其是近十幾年來汽車電子，消費電子等的快速發(fā)展與普及，現在的人們已經不能想象如果沒有汽車，電腦，智能手機我們該如何進行各種日常的工作及生活娛樂等活動。這些主要歸功于半導體集成電路技術的突飛猛進，集成度越來越高，功能越來越強大，體積越來越小。
芯片的封裝類型有很多種，其中常用的類型及大致應用方向都是比較多的，這里就不一一說明。如今的半導體產品市場競爭也是越來越激烈，就如同其他商品一樣，價格手段同樣是占領*有效的方法。各半導體工廠設備部門都在積創(chuàng)新，通過設備的引進與改良可以提高生產效率、良品率（Yield）以及單位時間的出貨量。其中良品率的提升也是直接的手段，在生產效率相等的情況下，良品率越高意味著產出的成品越多、創(chuàng)造的價值越高,在巨大的出貨量基礎上，良品率哪怕提升也會帶來非常可觀的收益增長。
芯片測試控溫系統面對的是封裝好的成品芯片，目的只是將其中的電性次品分揀出來或者按照客戶的要求定制某些參數，所以芯片測試控溫系統的良品率在整個半導體成本的地位可想而知。
芯片測試控溫系統是針對元器件測試過程進行運行的，不同廠家的芯片測試控溫系統性能是有一定差距的，還需要用戶進行合適的選擇。（注：本來部分內容來百度學術相關論文，如果侵權，請及時聯系我們進行刪除，謝謝。）
