微流體芯片測試是芯片開發(fā)以及生產(chǎn)過程中比較重要的一項設(shè)備，那么無錫冠亞微流體芯片測試的運行原理大家了解多少呢？

　　微流體芯片測試?yán)没跀?shù)字信號處理的測試技術(shù)來測試，微流體芯片測試能并行地進(jìn)行參數(shù)測試，所以能減少測試時間，能把各個頻率的信號分量區(qū)分開來（也就是能把噪聲和失真從測試頻率或者其它頻率分量中分離出來），所以能增加測試的精度和可重復(fù)性。

　　微流體芯片測試采樣用于把信號從連續(xù)信號（模擬信號）轉(zhuǎn)換到離散信號（數(shù)字信號），重建用于實現(xiàn)相反的過程。自動測試設(shè)備（ATE）依靠采樣和重建給待測芯片（DUT）施加信號或者測量它們的響應(yīng)。測試中包含了數(shù)學(xué)上的和物理上的采樣和重建。

　　微流體芯片測試模擬開關(guān)，它的晶體管電阻隨著數(shù)字信號變化；可編程增益放大器，能用數(shù)字信號調(diào)節(jié)輸入信號的放大倍數(shù)；數(shù)模轉(zhuǎn)換電路（D/AsorDACs）；模數(shù)轉(zhuǎn)換電路（A/DsorADCs）；鎖相環(huán)電路（PLLs），常用于生成高頻基準(zhǔn)時鐘或者從異步數(shù)據(jù)中恢復(fù)同步時鐘。

　　微流體芯片測試每個電源管腳消耗的電流是發(fā)現(xiàn)芯片是否存在災(zāi)難性缺陷的方法之一。每個電源管腳被設(shè)置為預(yù)定的電壓，接下來用自動測試設(shè)備的參數(shù)測量單元測量這些電源管腳上的電流。這些測試一般在測試程序的開始進(jìn)行，以快速有效地選出那些*失效的芯片，電源測試也用于保證芯片的功耗能滿足終端應(yīng)用的要求。

　　用戶可對微流體芯片測試原理了解清楚之后再進(jìn)行微流體芯片測試的選型工作，如果微流體芯片測試不會選擇，可以聯(lián)系微流體芯片測試廠家無錫冠亞進(jìn)行選擇。（注：本來部分內(nèi)容來百度學(xué)術(shù)相關(guān)論文，如果侵權(quán)，請及時聯(lián)系我們進(jìn)行刪除，謝謝。）